半导体特性分析仪

设备名称：半导体特性分析仪

设备编号：20092465

规格型号：4200-SCS

技术参数：独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA；支持Keithley590型与Agilent 4284 型C-V 仪、Keithley 开关矩阵与Agilent 81110 脉冲发生器等多种外围设备；硬件由Keithley 交互式测试环（KITE）来控制；支持Cascade Microtech Summit12K 系列、Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860自动和手动探针台

使用功能：容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求